介電常數介質損耗測試儀參數介紹

更新時間：2019-06-24 點擊次數：3992

介電常數介質損耗測試儀參數介紹

中航鼎力介電常數測定儀, LJD-C介電常數測試儀簡介滿足標準：GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的推薦方法高頻介質損耗測試系統由S916測試裝置（夾具）、GDAT型高頻Q表、數據采集和tanδ自動測量控件（裝入GDAT）、及LKI-1型電感器組成，它依據國標GB/T 1409-2006、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值（tanδ）和介電常數（ε）自動測量的解決方案。

參數指標

^{附表一,介質損耗測試系統主要性能參數一覽表}

^{S916測試裝置介電常數測試儀高頻Q表}


^{平板電容片}	^{Φ50mm/Φ38mm可選}	^頻率范圍	^{20KHz-60MHz/200KHz-160MHz}
^{間距可調范圍}	^≥15mm	^{頻率指示誤差}	^{3×10-5±1個字}
^{夾具插頭間距}	^25mm±0.01mm	^{主電容調節(jié)范圍}	^{30-500/18-220pF}
^{測微桿分辨率}	^0.001mm	^{主調電容誤差}	^<1%或1pF
^{夾具損耗角正切值}	^{≦4×10-4 （1MHz）}	^{Q測試范圍}	^2～1023

^{介電常數測試儀}^{附表二,LKI-1電感組典型測試數據}


^線圈號	^測試頻率	^Q值	^{分布電容p}	^電感值
⁹	^100KHz	⁹⁸	^9.4	^25mH
⁸	^400KHz	¹³⁸	^11.4	^4.87mH
⁷	^400KHz	²⁰²	¹⁶	^0.99mH
⁶	^1MHz	¹⁹⁶	¹³	^252μH
⁵	^2MHz	¹⁹⁸	^8.7	^49.8μH
⁴	^4.5MHz	²³¹	⁷	^10μH
³	^12MHz	¹⁹³	^6.9	^2.49μH
²	^12MHz	²²⁹	^6.4	^0.508μH
¹	^25MHz 50MHz	^233 211	^0.9	^0.125μH

^{介電常數介質損耗（介質損耗角）測試儀

型號：LJD-C}

^{一.介電常數測試儀主要特點：
空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品（小于 10 mil）量測值偏低,。}

^{二.介電常數測試儀主要技術特性：
介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數（ε），可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數字鎖定，標準頻率測試點自動設定，諧振點自動搜索，Q值量程自動轉換，數值顯示等新技術，改進了調諧回路，使得調諧測試回路的殘余電感減至低，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術，使得新儀器在使用時更為方便，測量值更為。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質損耗，高頻回路有效并聯及串聯電阻，傳輸線的特性阻抗等。}

^{三.介電常數測試儀儀器技術指標：
☆Q值測量：
a．Q值測量范圍：2～1023。 b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。
c．標稱誤差}